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日本SUNX神視用于液晶工業(yè)的光纖FD-L40系列限定反射型光纖FD-L406種用于玻璃電路板搬運(yùn)裝置的光纖系列

即使薄玻璃電路板也能精確繪圖

由于采用*的大透鏡，即便是薄玻璃電路板也能從側(cè)面直接檢測。另外，由于檢測范圍寬（25±12.5mm），即使玻璃電路板在不規(guī)則位置上也可進(jìn)行穩(wěn)定繪圖。

各種玻璃邊形狀如R表面和C表面都可獲得大光量，因而盒內(nèi)玻璃電路板的精確繪圖成為可能。除了清晰的玻璃外，有黑色或黃色涂層的玻璃也可檢測。即時反射便較差也能檢測

隨著玻璃電路板的大型化，其彎曲量也因此變大，但至少有一種可應(yīng)用于左右彎曲±8°（FD-L45為±6°）的電路板。

即使的彎曲±8°也能穩(wěn)定檢測

檢測距離為3～17mm（FD-L45為10～ 2 5 m m ），且由于定位誤差在0.2mm以下，因此可進(jìn)行更高精度的檢測。

以比以往更小的尺寸達(dá)到了同類中zui長的檢測距離，用于座式確認(rèn)十分理想，即使對彎曲的玻璃電路板也可提供穩(wěn)定的檢測性能。

以W7.2H7.5D2mm的極小尺寸收錄于限定反射光學(xué)系統(tǒng)中。此外，在無法確保安裝空間的場所、裝置中也可設(shè)置，從而大大擴(kuò)展了其用途。